Датчик угла наклона MEMS

Артикул:
TLT6

Производитель:
SOIL Instruments

« Назад

Артикул:
TLT6

Производитель: SOIL Instruments

Используется для измерений отклонений контролируемых конструкций от вертикальной плоскости.

ДОСТОИНСТВА	ПРИМЕРЫ РЕШАЕМЫХ ЗАДАЧ
Высокая точность измерений при помощи MEMS-датчиков. Возможность применения в условиях с повышенными требованиями к безопасности. Низкое потребление энергии.	Мониторинг кренов зданий, в том числе высотных. Контроль осадки и подъема существующих конструкций наземных сооружений и тоннелей, вызываемых земляными или проходческими работами. Наблюдение за смещением плоскостей в насыпных плотинах. Определение величины прогибов и деформаций различного рода опор и балок.

ДОСТОИНСТВА

ПРИМЕРЫ РЕШАЕМЫХ ЗАДАЧ

Высокая точность измерений при помощи MEMS-датчиков.
Возможность применения в условиях с повышенными требованиями к безопасности.
Низкое потребление энергии.

Мониторинг кренов зданий, в том числе высотных.
Контроль осадки и подъема существующих конструкций наземных сооружений и тоннелей, вызываемых земляными или проходческими работами.
Наблюдение за смещением плоскостей в насыпных плотинах.
Определение величины прогибов и деформаций различного рода опор и балок.

Датчик угла наклона MEMS состоит из одного или двух (одноосевой или двухосевой) датчиков угла наклона MEMS, монтируемых в корпус из нержавеющей стали и обеспечивающих высокую точность в большом диапазоне измерений.
Каждый измерительный модуль оснащен микропроцессором, обеспечивающим автоматическую температурную компенсацию.
Датчик угла наклона устанавливается на поверхность с использованием монтажного кронштейна и анкерных болтов, при этом в контролируемой конструкции просверливаются отверстия размером 8 мм.
Каждый датчик соединяется с регистратором данных, который обеспечивает как питание датчиков, так и запускает считывание и вывод данных.
Датчики угла наклона MEMS наиболее часто используются в измерительных системах, состоящих из нескольких измерительных модулей, с автоматическим считыванием результатов измерений.